瞬变电磁探测数据自适应成像方法原理及其应用

给出了一种瞬变电磁法探测数据自适应成像的方法,利用该方法容易实现后期成像的程序化,降低数据分析的难度,有利于数据的积累和方法的推广。对瞬变电磁反演所得的视电阻率和最大探测深度进行统计学分析,利用直方图和K—S检验证明了瞬变电磁法探测数据分布的正态性,根据正态分布的上分位点特性剔除偏离较大的异常值点,在数据分析的同时进行资料的积累和对比,对仪器稳定性以及数据质量的判断起到一定的参考作用。