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使用长基线带电和中性电流数据的中微子衰变寿命约束

上传者: 2020-07-21 19:51:14上传 PDF文件 515.32KB 热度 18次
我们调查了MINOS和T2K实验中带电和中性电流数据涉及振荡和衰减的场景的状态。 我们首先提出在振荡与衰减的框架中从MINOS的带电电流中微子和反中微子数据的分析,并获得非零衰减参数γ3的最佳拟合。 MINOS带电和中性点电流数据分析的结果最适合| m322 | = 2.34×10×3 eV2,sin2×23 = 0.60和零衰减参数,该参数对应
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