T通道单顶夸克生产中顶夸克极化的测量 上传者:lymwpc_xd 2020-07-20 22:01:34上传 PDF文件 1.02MB 热度 30次 提出了在t通道单顶夸克生产中对顶夸克极化敏感的顶夸克自旋不对称性的首次测量。 它基于在8 TeV质心能量下的pp碰撞的样本,对应于19.7 fb -1的综合光度。 选择了带有隔离介子的t通道单顶夸克事件的高纯度样本。 使用对数据的拟合来估计信号和背景成分。 对观察到的对顶夸克偏振敏感的角度进行差分横截面测量(针对检测器影响进行校正)。 微分分布用于提取0.26±0.03(stat)±0.10(syst)的顶级夸克自旋不对称性,其与4.6%的p值兼容,标准模型预测为0.44。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论 lymwpc_xd 资源:400 粉丝:0 +关注 上传资源 免责说明 本站只是提供一个交换下载平台,下载的内容为本站的会员网络搜集上传分享交流使用,有完整的也有可能只有一分部,相关内容的使用请自行研究,主要是提供下载学习交流使用,一般不免费提供其它各种相关服务! 本站内容泄及的知识面非常广,请自行学习掌握,尽量自已动脑动手解决问题,实践是提高本领的途径,下载内容不代表本站的观点或立场!如本站不慎侵犯你的权益请联系我们,我们将马上处理撤下所有相关内容!联系邮箱:server@dude6.com