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论文研究 基于二分算法的集成电路容错设计 .pdf

上传者: 2020-07-20 19:55:09上传 .PDF文件 347KB 热度 7次
基于二分算法的集成电路容错设计,张丽娜,梁华国,工艺技术进入微米级之后,放射性粒子引起的电路软错误率不断升高,现有加固技术通常会带来较大的面积开销。为了平衡电路面积开销
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