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十种常见的器件噪声分析错误.pdf

上传者: 2020-07-19 20:13:00上传 PDF文件 1.18MB 热度 22次
器件噪声的影响在纳米级 CMOS 工艺中极为关键,因为它在根本上制约了许多 45 nm 及以下工艺电路的性能。当给定正确的工具,器件噪声分析 (DNA) 将是一个相当简单的过程,并且仿真结果与硅测量结果只有 1 - 2 dB 的误差。但有几种常见的错误可能导致严重高估或低估器件噪声的影响,进而造成严重的过度设计和设计不足。 DNA 有三种基本类型。瞬态噪声分析是一种适用于所有电路类型的统计时序方法。瞬态噪声分析也是唯一适用于非周期性电路的器件噪声分析。对于周期驱动型电路(例如电荷泵和开关电容滤波器)而言,周期噪声分析通常要比瞬态噪声分析快得多,并且能够提供更全面的诊断信息。同理,对于周
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