RD(∗)τ极化和FBA上的带电希格斯

我们在一个泛型中研究了带电-希格斯对支化分数比过量的影响，RM = BR（B′→Mτν′τ）/ BR（B′→Mℓν¯ℓ）（M = D，D ∗） 两希格斯双峰模型。 为了研究轻子极化，给出了具有轻子螺旋度的详细衰减幅度。 当使用带电的希格斯数解决过量问题时，发现需要两个独立的Yukawa耦合来解释RD和RD *异常。 我们表明，当包含BR（Bc→τν¯τ）<30％的上限时，RD可以显着提高，而RD ∗ <0.27。 在BR（Bc→τν¯τ）约束下，我们发现τ-轻子极化仍然会受到荷电-希格斯效应的影响，从而获得标准模型（SM）预测：PDτ≈0.324和PD ∗τ≈ -0.500，并且