用双折射腔搜索轴突暗物质

类Axion粒子是一类广泛的暗物质候选者，它们有望表现为与光子耦合较弱的连贯经典场。 最近用激光干涉仪对这些颗粒的可检测性进行了研究，发现了许多有前途的实验设计。 受这些想法的启发，我们提出了使用双折射腔体（ADBC）实验进行轴测的方法，这是一种使用在其两个线性偏振激光本征模式之间表现出双折射的腔体的新轴对称干涉测量概念。 该实验概念克服了文献中当前设计的一些局限性，并且可以以具有可调镜角的简单领结腔的形式实际实现。 因此，我们的设计提高了在宽范围的轴质量范围内对轴-光子耦合的灵敏度。