暗物质直接检测中的光介体

在扩展的有效算子框架中，我们详细研究了光介质对暗物质（DM）-核散射事件谱的影响。 光介体的存在改变了当前实验数据的解释，尤其是DM颗粒质量的确定。 我们通过分析和数值例证表明，通常对于与自旋无关的散射有关的所有算子，当介体颗粒变轻时，给定一组实验数据所允许的DM颗粒质量会显着增加。 例如，在CDMS-II-Si实验的情况下，允许的DM粒子质量在68％（90％）的置信度下可以达到¼50（100）GeV，远大于0Â1 1 GeV在接触相互作用的情况下。 当介体质量低于ðª（10）MeV时，DM颗粒质量的增加达到饱和。 诸如SuperCDMS，CDMSlite，CDEX，XENON10 / 10