外来衰变通道不是中子寿命异常的原因

由于用冷中子束测量的长中子寿命与用捕集阱中装瓶的超冷中子测量的寿命显着不同。 人们通常认为，这种“中子异常”是由于未知来源的奇特的暗中子衰变通道引起的。 我们表明，当使用我们的中子衰变β不对称性的新结果时，可以高度置信地排除对中子异常的解释。 此外，来自中子衰变的数据现在可以与源自核β衰变的Ft数据进行比较。