论文研究 芯片测试环节质量重入随机系统建模与性能分析.pdf

论文研究-芯片测试环节质量重入随机系统建模与性能分析.pdf,  芯片测试系统中,由于检测设备的不稳定性、产品价值昂贵等原因,产品检测过程中出现质量问 题后经过一定调整重新进入检测,会形成质量重入问题.该类质量问题与系统的随机特性结合,使得系统 的产出,周期等与系统参数呈现出复杂的非线性关系特性.本研究结合某芯片测试企业的实际问 题,采用马尔科夫方法构建了模型,并获得系统的性能指标与参数之间