X 射线检测图象中缺陷的自动提取和分割

随着生产技术的发展, 现代工业对于X 射线的自动检测和识别的需求越来越迫切, 而要实现X 射线的自动检测和识别, 至关重要的一环是如何将缺陷信息从检测图象中正确提取和分割出来, 这也是X 射线自动检测和识别技术中的难点之一。对目前国内外学者在这方面的研究成果进行了综述, 并就其今后的发展发表了看法。