论文研究 SRAM型FPGA单粒子辐照试验系统技术研究.pdf

单粒子辐射效应严重制约FPGA的空间应用，为提高FPGA在辐射环境中的可靠性，深入研究抗辐射加固FPGA单粒子效应评估方法，设计优化单粒子效应评估方案，开发相应的评估系统，提出基于SRAM时序修正的码流存储比较技术和基于SelectMAP端口配置回读技术。借助国内高能量大注量率的辐照试验环境，完成FPGA单粒子翻转（SEU）、单粒子闩锁（SEL）和单粒子功能中断（SEFI）等单粒子效应的检测，试验结果表明，该方法可以科学有效地对SRAM型FPGA抗单粒子辐射性能进行评估。