低指数下非指数弹性质子 质子微分截面的证据 t | 和s = 8TeV by TOTEM

TOTEM实验基于使用Φ= 90 m光学器件获得的高统计数据样本，对质子能量s = 8 TeV处的质子弹性质子微分截面进行了精确测量。 统计和系统不确定性均保持在1％以下，但总体归一化的t独立影响除外。 这种空前的精度允许排除在四动量平方的平方范围内的纯指数微分截面0.027 <| t | <0.2 GeV2，并且显着性大于7ƒ。 两个扩展的参数化，在指数中具有二次多项式和三次多项式，显示出与数据很好的兼容。 使用它们进行微分横截面外推到t = 0，并进一步应用光学定理，分别得出（101.5±2.1）mb和（101.9±2.1）mb的总横截面估计值 与以前的TOTEM测量结果相同。