与模型无关的方法用于测量B 0→D ∗ −τ+ντ衰减的角系数

B 0→D ∗-τ+ντ角分布的重建由于从B和τ衰变中丢失中微子信息的强烈偏向效应而变得复杂。 在这项工作中，展示了一种在保持角度技术的模型独立性的同时进行角度系数无偏测量的新颖方法。 除背景条件外，还使用封装所有分辨率和接受效果的模板概率密度函数，以多维拟合对十二个描述信号衰减的角度函数进行了建模。 估计了LHCb和Belle II实验的敏感性，并讨论了系统不确定性的来源，特别是在外推法测量R（D ∗）时。