论文研究 基于裂环谐振器的低损耗基板的介电常数测量

在本文中，我们介绍了基于微带线激励的开环谐振器（SRR）的低损耗基板的复介电常数测量。 基于由SRR上方的被测材料（MUT）引起的SRR振荡频率的变化，计算未知基板的介电常数。 理论分析以及仿真和实验的结果表明，微带线激励的SRR可以有效地提高测量灵敏度。 提出并通过实验验证了使用SRR测量低损耗基材的简单方程式。