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映射中微子底面用于基于暗物质 电子散射的直接检测实验

上传者: 2020-07-17 03:18:38上传 PDF文件 762.16KB 热度 11次
我们研究了在太阳中微子背景下使用DM电子散射的未来暗物质(DM)直接检测实验的发现范围。 在这些低能量条件下,传统的核和电子反冲判别方法失败了,这意味着中微子核的散射背景可能相当大。 我们根据信号和背景的电离值计算发现极限,并量化对电离模型的依赖性。 此外,我们探索了DM横截面发现极限的依赖性如何随暴露,电子/核后座力鉴别,DM形状因素和DM天体物理不确定性而变化。
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