论文研究 顶级BIST算法的多内存分组包装器

该算法将第二级内置自检（BIST）集成到多个内存分组包装器中。 二级BIST在缩短测试时间的同时为存储系统带来了更多的可靠性。 主要方法是从顶层测试整个内存模块，其中许多步骤可以根据功耗要求和过热条件进行修改。 当步数等于内存模块数时，可以观察到算法最坏的情况，否则测试时间将相对于1 / N（N是步数）。 存储器包装方法的主要优点是，在使用代工厂提供的有限存储器的同时，可以增加存储器中位数和单元数量的多样性。