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JESD47H 01_Stress Test Driven

上传者: 2020-07-16 15:41:23上传 PDF文件 353.72KB 热度 19次
JESD47H.01(Revision of JESD47H, February 2011) Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits
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用户评论
码姐姐匿名网友 2020-07-16 15:41:23

很有用的标准参考资料,找了很久终于找到了

码姐姐匿名网友 2020-07-16 15:41:23

终于找到这个文檔了

码姐姐匿名网友 2020-07-16 15:41:23

全是英文,看不懂。