DEPFET检测器可直接检测MeV暗物质颗粒

暗物质的存在是无可争议的，但其性质仍然未知。 用一种新的未观察到的粒子解释暗物质是最有希望的解决方案之一。 最近，在MeV质量区域中的暗物质候选者越来越受到关注。 与介于几个GeV到几个TeV之间的质量区域相比，该区域在实验上很大程度上未被开发。 我们讨论了RNDR DEPFET半导体检测器在直接搜索MeV质量区域中暗物质中的应用。 我们介绍了RNDR DEPFET器件的工作原理，并回顾了先前执行的原型测量所获得的性能。 讨论了该技术作为暗物质检测器的未来潜力，并提出了使用RNDR DEPFET传感器进行MeV暗物质检测的灵敏度。 在感兴趣的区域中发生六个背景事件并暴露1 kg年的假设下，对于