用薄磁盘频谱测试黑洞候选者的参数化

我们讨论一个参数化，以描述与Kerr度量的可能偏差，并使用电磁辐射测试天体黑洞候选者。我们的度量是对Kerr解的非常简单的概括，具有两个主要属性：（1）现象学非常丰富，例如，它可以描述具有高Novikov-Thorne辐射效率的黑洞或很小的黑洞；（2）适用于研究薄盘光谱所需的数值计算。后一点是我们研究这种参数化的主要动机，因为在实际数据分析中通常有几个参数需要拟合，而当前非Ker指标的问题是计算时间太长。