电子正电子对撞机辐射事件中的顶级夸克质量测量

在这封信中，我们评估了线性e+e-对撞机在辐射事件和合适的短距离方案中测量顶级夸克质量的潜力。我们根据tt系统的不变质量，给出了与初始状态辐射的高能光子相关的顶夸克对产生的微分截面的计算。这种匹配的计算包括在tt产生阈值附近的横截面的QCD增强，并且在远高于该阈值的连续谱中保持有效。在紧凑线性对撞机（CLIC）和国际线性对撞机（ILC）的实际操作场景中，对顶级质量确定中的不确定性进行了评估，包括统计上的不确定性以及理论和实验上的系统不确定性。使用这种方法，可以在CLIC的初始阶段以110MeV的精度确定顶夸克质量，在s=380GeV时以1ab$^{-1}$确定，在