电子产品快速瞬变脉冲群测试的失败原因及对策分析可靠性年会06 上传者：ldjhust 2020-05-18 17:53:38上传 PDF文件 326.33KB 热度 14次 本文先就电子产品快速瞬变脉冲群形成机理及相应的测试方法进行了简要介绍，然后综合其他研究者的成果及笔者的实践经验针对快速瞬变脉冲群对电子产品不同影响特点提出了相应的对策方案，以方便电子产品设计人员及电磁兼容对策工程师在实际工作中参考、验证、改进和完善。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 收藏 腾讯 微博 用户评论 发表评论 ldjhust 资源：1 粉丝：0 +关注 上传资源 免责说明 本站只是提供一个交换下载平台，下载的内容为本站的会员网络搜集上传分享交流使用,有完整的也有可能只有一分部,相关内容的使用请自行研究,主要是提供下载学习交流使用,一般不免费提供其它各种相关服务! 本站内容泄及的知识面非常广,请自行学习掌握,尽量自已动脑动手解决问题,实践是提高本领的途径,下载内容不代表本站的观点或立场!如本站不慎侵犯你的权益请联系我们,我们将马上处理撤下所有相关内容！联系邮箱：server@dude6.com
