Bi2Te3/Bi2Se3拓扑绝缘体的点缺陷研究 上传者：埃及魅 2020-05-15 20:05:11上传 PDF文件 571.68KB 热度 28次 Bi2Te3/Bi2Se3拓扑绝缘体的点缺陷研究，姜颖，王勇，通过分子束外延（MBE）方法制备出Sb/Cr掺杂的Bi2Te3以及Fe掺杂的Bi2Se3材料。联合利用电子背散射衍射（EBSD）仪及聚焦离子束（FIB）加工仪� 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论 埃及魅 资源：432 粉丝：0 +关注 上传资源 免责说明 本站只是提供一个交换下载平台，下载的内容为本站的会员网络搜集上传分享交流使用,有完整的也有可能只有一分部,相关内容的使用请自行研究,主要是提供下载学习交流使用,一般不免费提供其它各种相关服务! 本站内容泄及的知识面非常广,请自行学习掌握,尽量自已动脑动手解决问题,实践是提高本领的途径,下载内容不代表本站的观点或立场!如本站不慎侵犯你的权益请联系我们,我们将马上处理撤下所有相关内容！联系邮箱：server@dude6.com
