钝化层与器件可靠性研究 上传者：qinxupeng 2020-04-29 06:48:24上传 PDF文件 1.18MB 热度 21次 钝化层与器件可靠性研究，李雨辰，何友琴，本文采用了X光电子能谱仪（XPS）、扫描电镜、二次离子质谱仪（SIMS）等多种分析手段对某半导体器件厂失效器件进行失效原因分析，并� 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论 qinxupeng 资源：437 粉丝：0 +关注 上传资源 免责说明 本站只是提供一个交换下载平台，下载的内容为本站的会员网络搜集上传分享交流使用,有完整的也有可能只有一分部,相关内容的使用请自行研究,主要是提供下载学习交流使用,一般不免费提供其它各种相关服务! 本站内容泄及的知识面非常广,请自行学习掌握,尽量自已动脑动手解决问题,实践是提高本领的途径,下载内容不代表本站的观点或立场!如本站不慎侵犯你的权益请联系我们,我们将马上处理撤下所有相关内容！联系邮箱：server@dude6.com
