基于高光谱透射成像的鸭梨内部缺陷检测方法研究 上传者：wu37831 2020-02-23 16:59:42上传 PDF文件 328.17KB 热度 46次 基于高光谱透射成像的鸭梨内部缺陷检测方法研究，陆卓远，崔笛，本研究以鸭梨为研究对象，采用透射方式采集样本的高光谱图像，初步探索了基于高光谱透射图像分析的鸭梨内部缺陷检测方法。设计完 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
