论文研究BIT试验中VME总线故障注入设备控制单元设计.pdf

针对航空电子设备BIT(机内测试)试验，设计了一种基于FPGA（现场可编程门阵列）的VME总线故障注入设备。该设备的控制单元用于完成故障注入设备的总体控制，是实现故障注入任务的关键。详细分析了VME总线故障注入设备的总体框架，给出了VME总线故障注入设备控制单元的设计方案，包括详细的软、硬件设计方法以及该系统的工作流程，并通过测试工具验证了控制单元设计和功能的正确性。最后，讨论了BIT试验中故障注入技术应用未来研究工作的开展方向。