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论文研究一种基于扫描链重排序的低功耗测试方法 .pdf

上传者: 2019-09-20 11:47:38上传 PDF文件 287.19KB 热度 17次
一种基于扫描链重排序的低功耗测试方法,周晟,尤志强,随着集成电路规模越来越大,数字电路的功耗已经成为电路设计者考虑的主要问题。本文提出一种基于扫描链重排序的低功耗测试方法,
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