论文研究一种低成本NAND闪存卡测试机的研究 .pdf 上传者：qq349925728 2019-09-18 11:29:11上传 PDF文件 1.17MB 热度 39次 一种低成本NAND闪存卡测试机的研究，邱清武，郭筝，测试成本是芯片制造成本的重要部分。ATE(AutomaticTestEquipment,自动测试设备)的成本是测试成本的重要部分。芯片制造商一直在寻求低成本 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论 qq349925728 资源：19471 粉丝：3 +关注 上传资源 免责说明 本站只是提供一个交换下载平台，下载的内容为本站的会员网络搜集上传分享交流使用,有完整的也有可能只有一分部,相关内容的使用请自行研究,主要是提供下载学习交流使用,一般不免费提供其它各种相关服务! 本站内容泄及的知识面非常广,请自行学习掌握,尽量自已动脑动手解决问题,实践是提高本领的途径,下载内容不代表本站的观点或立场!如本站不慎侵犯你的权益请联系我们,我们将马上处理撤下所有相关内容！联系邮箱：server@dude6.com
