内存测试算法以及源码

下列测试项主要用来测试出那些始终保持高或者低的坏块: Random value XOR comparison SUB comparison MUL comparison DIV comparison OR comparison AND comparison 下列测试项用来测试那些不能正确保存写入的值的坏块： Sequential Increment Block Sequential Solid Bits 下列测试项主要用来测试出那些受制于临近单元的状态或状态改变的坏块： Bit Flip Checkerboard Walking Ones Walking Zeroes Bit Spread 下列测试项用来测试要测的内存地址是否是正确的地址。如果这个步骤报错，说明内存系统有其他严重问题： Stuck Address