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ARM-JTAG-调试原理

上传者: 2018-12-26 00:05:40上传 RAR文件 658.81KB 热度 36次
主要介绍 ARM JTAG 调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE 的介绍,在此基础上,结合ARM7TDMI 详细 介绍了的JTAG 调试原理。
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