Semiconductor Material and Device Characterization 上传者：kikoi 2019-07-08 19:19:53上传 PDF文件 12.01MB 热度 54次 第三版，涉及：电阻，载流子浓度和掺杂密度，接触电阻和肖特基势垒，串联电阻和沟道长度宽度，阈值电压，缺陷，氧化界面，载流子寿命和迁移率，光学特性，化学物理特性，以及可靠性等多方面问题的研究，是一本优秀的国外半导体物理教程 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 码姐姐匿名网友 2019-07-08 19:19:53 不是图像版的，不错 码姐姐匿名网友 2019-07-08 19:19:53 本书结合了材料器件的测试表征，同时介绍了基础知识，对一些问题做了很详细的说明。 码姐姐匿名网友 2019-07-08 19:19:53 经典好书，值得收藏 码姐姐匿名网友 2019-07-08 19:19:53 比较专业的书，英文版，文字清晰非影印版，非常好 码姐姐匿名网友 2019-07-08 19:19:53 介绍半导体很好的教材，很有启发性，多谢楼主！ 码姐姐匿名网友 2019-07-08 19:19:53 不是图像版的，不错。 发表评论
不是图像版的，不错
本书结合了材料器件的测试表征，同时介绍了基础知识，对一些问题做了很详细的说明。
经典好书，值得收藏
比较专业的书，英文版，文字清晰非影印版，非常好
介绍半导体很好的教材，很有启发性，多谢楼主！
不是图像版的，不错。