VLSI测试方法学和可测性设计

Name: VLSI测试方法学和可测性设计
Rating: 4.5 (44 reviews)
Author: 李娜德

上传者：李娜德 2019-05-17 01:25:09上传 PDF文件 18.19MB 热度 44次

一本关于VLSI的可测试性设计的书，内容很全，从电路基础知识到故障模型、测试方法等都有讲解

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VLSI测试方法学和可测性设计

一本关于VLSI的可测试性设计的书，内容很全，从电路基础知识到故障模型、测试方法等都有讲解

大小：0B | 2019-05-17 01:25:09
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