边界扫描测试的原理及应用设计 上传者：ztl7270 2019-01-18 20:39:27上传 PDF文件 122.68KB 热度 35次 文章介绍了边界扫描测试的原理,分析了联合测试行动组J TAG控制器的逻辑状态,并给出了 J TAG测试具体应用的VHDL 原代码和逻辑仿真波形。利用J TAG接口可以方便地进行复杂IC 芯片连接的故障定位,灵活控制IC 芯片进入特定的功能模式等。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 收藏 腾讯 微博 用户评论 发表评论 ztl7270 资源：14 粉丝：0 +关注 上传资源 免责说明 本站只是提供一个交换下载平台，下载的内容为本站的会员网络搜集上传分享交流使用,有完整的也有可能只有一分部,相关内容的使用请自行研究,主要是提供下载学习交流使用,一般不免费提供其它各种相关服务! 本站内容泄及的知识面非常广,请自行学习掌握,尽量自已动脑动手解决问题,实践是提高本领的途径,下载内容不代表本站的观点或立场!如本站不慎侵犯你的权益请联系我们,我们将马上处理撤下所有相关内容！联系邮箱：server@dude6.com
