除了影响所有 USB 系统的 ESD 风险外,USB Type-C 还导致了一些特有的故障模式。这些模式由两种因素共同影响造成:USB PD 高功率输送和紧凑的几何形状。如果传统 USB 系统采用 USB 2.0 或 3.0 通信协议,则可以使用 USB PD 实现高功率输送。然而,传统 USB 连接器(图 1)对几何形状的要求并不那么严格,在一定程度上降低了非 USB Type-C 应用的故障风险。 图 1:USB Type-C 的普及一定程度上归因于其紧凑、可反转的连接器。而缺点是引脚间距小于像 USB Type-A 之类旧版 USB 连接器。Type-C
