IEEE 1149.1 标准

IEEE1149.1标准 边界扫描/JTAG，即IEEE/ANSI标准1149.1_1190，是一套设计规则，可以在芯片级、板级和系统级简化测试、器件编程和调试。该标准是联合测试行动小组（JTAG）（由北美和欧洲的几家公司组成）开发的。IEEE1149.1标准最初是做为一种能够延长现有自动测试设备（ATE）寿命的片上测试基础结构而开发的。可以从TexasInstruments边界扫描页面获得更多信息。利用该标准整合测试设计，允许完全控制和接入器件的边界引脚，而无需不易操作的或其它测试设备。每个符合JTAG要求的器件的输入/输出引脚上都包括一个边界单元（如图1所示）。正常情况下，